新型S NEOX3D光學(xué)輪廓儀主要技術(shù)優(yōu)勢(shì)如下：

優(yōu)勢(shì)1  第5代干涉共焦顯微鏡，更加精準(zhǔn)易用

新型 S neox 是sensofar公司開(kāi)發(fā)的第5代干涉共焦顯微鏡，在性能、功能、效率和設(shè)計(jì)方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡或白光干涉儀。第5代 S neox 系統(tǒng)的誕生，使得操作更易于使用、直觀且更快速。即使是初學(xué)者，只需點(diǎn)擊一下，即可操作測(cè)量，可快速切換共焦、白光干涉和相位差干涉測(cè)量模式，滿足從粗糙表面到平滑表面測(cè)量需求。

優(yōu)勢(shì)2  Microdisplay共焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)掃描頭內(nèi)無(wú)運(yùn)動(dòng)部件

SENSOFAR設(shè)計(jì)的Microdisplay共焦技術(shù)（微型程控顯示掃描共焦技術(shù)），做到了掃描頭內(nèi)無(wú)運(yùn)動(dòng)部件，解決了共聚焦掃描一直以來(lái)的問(wèn)題---有部件要高速運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)了既能高速掃描，又能避免部件運(yùn)動(dòng)造成震動(dòng)影響精度。

優(yōu)勢(shì)3 優(yōu)秀的掃描速度，數(shù)據(jù)采集速度高達(dá) 180幀/秒

新型 S neox作為第5代最新干涉共焦顯微鏡，通過(guò)采用新的智能和優(yōu)秀的算法以及新型相機(jī)（500萬(wàn)像素相機(jī)），達(dá)到可觀的速度。數(shù)據(jù)采集速度達(dá) 180幀/秒。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量采集速度比以前快 5 倍。典型三維圖片獲取時(shí)間僅需3秒。

優(yōu)勢(shì)4  測(cè)量的可追溯性

每一臺(tái) S neox 皆為提供準(zhǔn)確和可追溯的測(cè)量而精心制造。系統(tǒng)使用符合ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)的可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)，包括：縱向精度、橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。可一鍵實(shí)現(xiàn)ISO25178和ISO4287粗糙度測(cè)量，無(wú)需復(fù)雜的粗糙度參數(shù)設(shè)置。

優(yōu)勢(shì)5  三合一的3D測(cè)量技術(shù)（共聚焦、干涉、多焦面疊加）

Sensofar 的三合一3D測(cè)量方法—只需點(diǎn)擊一次，系統(tǒng)即可切換到適合當(dāng)前測(cè)量任務(wù)的最合適技術(shù)。在 S neox 傳感器頭中配置三種3D測(cè)量技術(shù)：共聚焦測(cè)量、干涉測(cè)量、Ai 多焦面疊加測(cè)量，這些都為系統(tǒng)的多功能性做出了重要貢獻(xiàn)，并有助于最大限度地減少數(shù)據(jù)采集中的噪點(diǎn)。S neox 是所有實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的理想之選,適用范圍廣泛，適合粗糙，到光滑及超光滑表面3D測(cè)量。

優(yōu)勢(shì)6  Sensofar最新的共焦技術(shù)：連續(xù)共聚焦掃描技術(shù)

針對(duì)一般共聚焦設(shè)備掃描速度慢的問(wèn)題，Sensofar研發(fā)了連續(xù)共聚焦掃描方式，即保證了掃描精度，提高了圖像支架，又將掃描速度提高了3倍。

優(yōu)勢(shì)7  Sensofar最新的共焦技術(shù)：融合共聚焦測(cè)量

SENSOFAR還推出了融合共聚焦掃描模式，將共聚焦和多焦面疊加兩種模式的優(yōu)勢(shì)結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了可測(cè)最大86度的斜率并具有納米級(jí)Z軸精度的三維測(cè)量。融合共聚焦能提供更好的測(cè)量效果，獲取更好的圖像質(zhì)量，同時(shí)可獲得比共聚焦和多焦面疊加更可靠的數(shù)據(jù)。

優(yōu)勢(shì)8 智能噪音檢測(cè)—有效提高圖像質(zhì)量，消除噪點(diǎn)

S neox 3D光學(xué)輪廓儀使用檢測(cè)算法(SND) 檢測(cè)那些不可靠的數(shù)據(jù)像素。與使用空間平均的其他技術(shù)相比，S neox 在不損失橫向分辨率的情況下逐像素處理。

優(yōu)勢(shì)9 高性能軟件分析系統(tǒng)Senso View

Senso View是一種交互式分析工具，2D 和 3D 的交互式視圖提供多種縮放、顯示和渲染選項(xiàng)。提供一套全面的工具，用于 3D 或2D 測(cè)量的初步檢查和分析。可以測(cè)量關(guān)鍵尺寸、角度、距離、直徑，并使用新的注釋工具突出顯示特征。可實(shí)現(xiàn)剖面線上多段高度差測(cè)量；可測(cè)量剖面線多段高度信息，并實(shí)時(shí)顯示在剖面線測(cè)量圖上。