Epsilon 4 X射線熒光光譜儀是一款多功能臺式 XRF 分析儀，廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個領(lǐng)域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細(xì)分市場。 Epsilon 4 將激發(fā)和檢測技術(shù)與成熟軟件和智能設(shè)計相結(jié)合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。

對于傳統(tǒng)上由 ICP 和 AAS 來實現(xiàn)的復(fù)雜應(yīng)用，這提供了一個簡單易行的替代方案。通過將 XRF 光譜儀放置在生產(chǎn)線旁邊，嘗試進(jìn)行現(xiàn)場或在線 XRF 監(jiān)控，您的反饋時間將從幾小時縮短到幾分鐘。

Epsilon 4 光譜儀具有高靈活性，適用于廣泛的專業(yè)應(yīng)用， 隨時準(zhǔn)備為您創(chuàng)造價值。

Epsilon 4 X射線熒光光譜儀特點

靈活的配置

Epsilon 4 是高度靈活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于從研發(fā)到過程控制等各個領(lǐng)域的元素分析 (F - Am)。 要實現(xiàn)更高的樣品處理量或擴(kuò)展的輕元素功能，并且處于更加具有挑戰(zhàn)性的環(huán)境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以對碳、氮和氧進(jìn)行分析。

最新發(fā)展

Epsilon 4 儀器將射線探測技術(shù)與分析軟件結(jié)合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、硅漂移探測器 SDD30 以及緊湊的光路設(shè)計相結(jié)合，提供了甚至超過 50 瓦功率 EDXRF 系統(tǒng)以及臺式 WDXRF 系統(tǒng)的分析性能 - 同時還額外提高了能源利用效率。

迅速、靈敏

利用可生成更高強(qiáng)度的硅漂移探測器技術(shù)實現(xiàn)迅速測量。

探測器電路提供的線性計數(shù)率可超過 1,500,000 cps（在 50% 的死時間下），和計數(shù)率無關(guān)的分辨率通常高于 135 （eV@300 kcps），可更好地對鄰近譜線進(jìn)行分離。強(qiáng)有力的探測性能使得 Epsilon 4 能譜儀超越了傳統(tǒng)臺式儀器，實現(xiàn)了更快的測試響應(yīng)和更低的檢出限。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運(yùn)行，因此與傳統(tǒng)的 EDXRF 臺式儀器相比，實現(xiàn)了更高的樣品通量。

降低氦氣消耗量

Epsilon 4 的高性能使得許多應(yīng)用可以在空氣環(huán)境中運(yùn)行，從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時間。 在空氣中測量時，鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很敏感。 內(nèi)置溫度和氣壓傳感器可補(bǔ)償這些大氣變化，確保在各種氣候條件下檢測的結(jié)果不受影響。

產(chǎn)品應(yīng)用

產(chǎn)品參數(shù)